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日立光譜儀的基本原理

日立光譜儀的基本原理

手持式合金分析儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。由于它具有便攜、高效、準確等優(yōu)點使其在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、事故調(diào)查等現(xiàn)場有著廣泛的應(yīng)用。

手持式合金分析儀的基本原理：

手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產(chǎn)生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。

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